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我国拥有知识产权的扫描探针显微集成系统步入产业化
湖南省科学技术厅门户网站
发布时间：
2009-02-11 00:00
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科学仪器与设备是进行科学研究必不可少的物质条件。在纳米科技迅猛发展的今天，研制开发适用于纳米科学研究和技术开发的实验检测设备是非常必要。扫描探针显微镜(Scanningprobemicroscope,SPM)已成为目前用于纳米科技研发的主要实验检测设备。
由中国科学院化学研究所承担的“十五”863新材料领域“扫描探针显微集成系统的研制”课题，研制成功的扫描探针显微集成系统能够进行电和光或电和力信号的同时检测，实现了扫描隧道和近场光学或扫描力和近场光学同时检测成像，具有反射、透射和荧光等工作模式。扫描探针显微集成系统提高了现有探针显微技术的综合检测能力，能够获取更多信息，拓展了现有技术的应用范围，为在微纳尺度上研究材料结构和性质提供新的系统，属国内首创。此外，研制推出的CSPM3000/4000系列扫描探针显微镜涵盖了扫描隧道和扫描力显微镜的所有检测成像功能，达到国内同类设备的最好水平，目前已销售多台并得到用户认可。扫描探针显微集成系统的研制成功将为我国纳米科技的发展起到一定的推动作用。
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